为了克服传统弯晶光谱仪的检测问题，基于衍射聚焦X射线特征能谱范围、衍射光源位置、聚焦成像距离等关键物理参数，设计了高光谱分辨率、宽光谱检测范围的多锥晶体X射线谱仪。从结构原理上讨论了光谱仪的特点。研制了一种连续光滑的多锥面X射线衍射聚焦曲面晶体。通过一次X射线衍射聚焦诊断实验，可以实现不同能量X射线的无像差检测。对Ti的k射线和k射线光谱进行了多次衍射聚焦测试，获得了K与K特征谱线在不同聚焦成像位置下的强度分布，并分析了光谱仪的聚焦能力和光谱分辨率。根据晶体x射线聚焦度与成像位置的关系，分析了连续锥光谱仪在不同聚焦成像位置的聚焦性能，确定了最佳聚焦位置。实验结果表明，多锥晶体X射线光谱仪的聚焦能力得到了显著提高，能谱的探测范围可以覆盖4.51-5.14keV，在大尺寸光源的基础上，光谱分辨率仍然可以达到600以上。