透射电镜（TEM）是一种多功能的微观结构表征工具，对分析材料的形态、结构和性能具有重要意义。在TEM收集的数据是一个三维物体在二维空间上的投影。为了获得全面、准确的信息，需要将样品倾斜到特定晶带轴的方向。晶带轴系列倾斜的操作主要取决于菊池极的立场。然而，由于不同晶带轴之间的角度差异较大，很难在荧光屏上观察到多个不同的菊池极，在倾斜过程中样品位置会发生很大的移动。为了获得理想的结果，有必要在衍射模式和成像模式之间反复切换。为了降低皮带轴串联倾斜的操作难度，建立了数学模型。通过测量菊池线与水平方向之间的角度，可以简单快速地获得目标皮带轴所需的倾斜角度。这项工作为高校充分利用TEM峰探测晶体微观结构和确定取向关系提供了具体的理论和实验指导。